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Générer des lignes de visée (Outils 3D Analyst)

Résumé

Crée des entités linéaires représentant des lignes de visée d’un ou plusieurs points d’observation vers les entités d’une classe d’entités cible.

Illustration

Générer des lignes de visée

Utilisation

  • Les lignes de visée sont échantillonnées à partir du périmètre de lignes et polygones cibles selon la valeur spécifiée dans le paramètre Sampling Distance (Distance d’échantillonnage). La valeur de Sampling Distance (Distance d’échantillonnage) doit être précisée avec les unités x-y de la classe d’entités en sortie.

  • Un champ de jointure permet de spécifier une ou plusieurs cibles pour un point d'observation donné. Si aucun champ de jointure n'est utilisé, tous les points sont connectés à toutes les cibles.

  • Une sortie tridimensionnelle est générée si une source hauteurs est spécifiée pour les entités d'observation et cible. La source hauteurs du point d'observation et les entités cible sont par défaut le premier nom de champ de cette liste :

    1. Shape.Z (uniquement disponible pour les entités prenant en charge les valeurs Z)

    2. Spot

    3. Z

    4. Z_Value

    5. Height

    6. Elev

    7. Elevation

    8. Contour

    Si aucun champ de hauteur approprié n’existe, le mot-clé <Aucun> est utilisé par défaut pour indiquer que les entités ne présentent aucune valeur Z.

  • Si le champ de hauteur souhaité n’a pas une plus grande priorité dans la sélection de champ par défaut, le champ souhaité doit être spécifié explicitement. De même, si un champ de hauteur n’est pas requis alors que la classe d’entités comporte l’un des champs dans la liste de sélection par défaut, le mot-clé <None> doit être spécifié.

  • Les champs suivants sont ajoutés à la classe d'entités en sortie qui contient les lignes de visée :

    • OID_OBSERV—OID du point d’observation

    • OID_TARGET—OID de l’entité cible

    • DIST_ALONG—Distance le long de l’entité cible s’il s’agit d’une ligne ou d’un polygone

  • Lorsque le paramètre Output The Directions (Générer la direction) est activé, les lignes de visée en sortie ont deux champs attributaires supplémentaires :

    • AZIMUTH—Degrés à partir du plein nord où les valeurs augmentent dans le sens horaire

    • VERT_ANGLE—Angle vertical, exprimé en degrés, à partir de l’horizon, où 90° est directement au-dessus de la tête et -90° directement en dessous. L'angle vertical est pertinent uniquement si un champ hauteur est spécifié.

Paramètres

Etiqueter Explication Type de données

Points d'observation

Entités points uniques qui représentent des points d'observation. Les entités multi-points ne sont pas prises en charge.

Feature Layer

Entités cible

Entités cible (points, multi-points, lignes et polygones).

Feature Layer

Sortie

Classe d’entités en sortie contenant les lignes de visée.

Feature Class

Champ Observer Height (Hauteur de l’observateur)

(Facultatif)

Source des valeurs de hauteur pour les points d’observation obtenus à partir de la table attributaire.

Un champ Observer Height Field (Champ de hauteur de l’observateur) par défaut est sélectionné parmi les options répertoriées ci-dessous par ordre de priorité. Si plusieurs champs existent, et si le champ requis n'a pas de plus grande priorité dans la sélection de champ par défaut, le champ requis doit être spécifié.

  • No Height Source—No Z values will be assigned to the resulting sight line features.

String

Champ de hauteur cible

(Facultatif)

Champ de hauteur pour la cible.

Un champ Target Height Field (Champ de hauteur cible) par défaut est sélectionné parmi les options répertoriées ci-dessous par ordre de priorité. Si plusieurs champs existent, et si le champ requis n'a pas de plus grande priorité dans la sélection de champ par défaut, le champ requis doit être spécifié.

  • No Height Source—No Z values will be assigned to the resulting sight line features.

String

Joindre un champ

(Facultatif)

Le champ de jointure est utilisé pour la correspondance des points d'observation avec des cibles spécifiques.

  • No Join Field—No Z values will be assigned to the resulting sight line features.

String

Distance d’échantillonnage

(Facultatif)

Distance entre les échantillons lorsque la cible est une classe d'entités linéaires ou surfaciques. Les unités Sampling Distance (Distance d’échantillonnage) sont interprétées dans les unités XY de la classe d’entités en sortie.

Double

Générer la direction

(Facultatif)

Indique si des attributs de direction doivent être ajoutés aux lignes de visée en sortie. Deux champs supplémentaires sont ajoutés et renseignés de manière à indiquer la direction : AZIMUTH et VERT_ANGLE (angle vertical).

  • Activé—Two additional fields will be added and populated to indicate direction: AZIMUTH and VERT_ANGLE (vertical angle).

  • Décoché—No direction attributes will be added to the output sight lines. This is the default.

Boolean

Méthode d'échantillonnage

(Facultatif)

Spécifie comment la distance d’échantillonnage est utilisée pour établir des lignes de visée le long de l’entité cible.

  • 2D distance—The distance will be evaluated in two-dimensional Cartesian space. This is the default.

  • 3D distance—The distance will be evaluated in three-dimensional length.

String

Environnements

Espace de travail courant, Etendue, Système de coordonnées en sortie, Transformations géographiques, Résolution XY, Tolérance XY, Domaine XY en sortie, Résolution Z, Tolérance Z, Domaine Z en sortie, Mot-clé CONFIG en sortie, Validation automatique

Informations de licence

  • Basic: Nécessite 3D Analyst
  • Standard: Nécessite 3D Analyst
  • Advanced: Nécessite 3D Analyst