TanH (Spatial Analyst ツール)
サマリー
ラスターのセル値の双曲線正接を計算します。
図
使用法
数学の場合、すべての三角関数にドメイン (定義域) と呼ばれる有効な入力値の範囲が定義されています。 各関数の出力値も範囲が定義されています。 このツールでは、以下を意味します。
ドメイン: -∞ < [in_value] < ∞
範囲: -1 < [out_value] < 1
-∞ と ∞ はそれぞれ、特定のラスター形式でサポートされている負の最小値と正の最大値を表します。
このツールの入力値および出力値は単位がないものとして解釈されます。
出力値は入力データの型に関係なく常に浮動小数点です。
入力がマルチバンド ラスターである場合、出力はマルチバンド ラスターになります。 このツールは、入力の各バンドに対して操作を実行します。
入力が多次元ラスター データである場合、すべての変数のすべてのスライスが処理されます。 出力は CRF 形式の多次元ラスターになります。
このツールに適用されるジオプロセシング環境の詳細については、解析環境と Spatial Analyst をご参照ください。
パラメーター
| ラベル | 説明 | データ タイプ |
|---|---|---|
|
入力ラスター、または定数値 |
双曲線正接値の計算対象となる入力値。 数値をこのパラメーターの入力として使用するには、セル サイズと範囲を最初に環境で設定しておく必要があります。 |
Raster Layer; Constant |
戻り値
| ラベル | 説明 | データ タイプ |
|---|---|---|
|
出力ラスター |
出力ラスター。 値は、入力値の双曲線正接です。 |
Raster |
環境
自動コミット, セル サイズ, セル サイズ投影法, 現在のワークスペース, 範囲, 地理座標系変換, マスク, 出力データのコンフィグレーション キーワード, 出力座標系, スクラッチ ワークスペース, スナップ対象ラスター, タイル サイズ
ライセンス情報
- Basic: Spatial Analyst または Image Analyst が必要
- Standard: Spatial Analyst または Image Analyst が必要
- Advanced: Spatial Analyst または Image Analyst が必要