Exp (Spatial Analyst Tools)
Zusammenfassung
Die Exponentialfunktion zur Basis e der Zellen in einem Raster berechnen.
Abbildung
Verwendung
Die Eingabewerte können ganzzahlige oder Gleitkommawerte und positiv oder negativ sein.
Sie können einige Ergebnisse für positive und negative Gleitkomma-Eingabewerte unter "Beispiele für Ausgabewerte" von Exponential-Werkzeugen überprüfen.
Die Exponentialfunktion zur Basis e ist die am häufigsten verwendete Exponentialfunktion.
Eingabewerte kleiner oder gleich -745 werden in der Ausgabe auf "NoData" festgelegt, da diese Werte durch 32-Bit-Gleitkommazahlen nicht genau dargestellt werden können.
Bei diesem Werkzeug ist das Ausgabe-Raster immer ein Gleitkomma-Raster, unabhängig von der Art des Eingabewertes.
Die Ausgabewerte dieses Werkzeugs sind immer positiv.
Wenn die Eingabe ein Multiband-Raster ist, dann ist auch die Ausgabe ein Multiband-Raster. Das Werkzeug führt den Vorgang für jedes Band in der Eingabe durch.
Wenn als Eingabe multidimensionale Raster-Daten verwendet werden, werden alle Ausschnitte sämtlicher Variablen verarbeitet. Die Ausgabe ist ein multidimensionales Raster im CRF-Format.
Weitere Informationen zu den Geoverarbeitungsumgebungen für dieses Werkzeug finden Sie unter "Analyseumgebungen und Spatial Analyst".
Parameter
| Beschriftung | Erläuterung | Datentyp |
|---|---|---|
|
Eingabe-Raster oder konstanter Wert |
Die Eingabewerte, für die die Exponentialfunktion zur Basis e ermittelt werden soll. Um eine Zahl als Eingabe für diesen Parameter zu verwenden, müssen Sie zunächst in der Umgebung die Zellengröße und die Ausdehnung festlegen. |
Raster Layer; Constant |
Rückgabewert
| Beschriftung | Erläuterung | Datentyp |
|---|---|---|
|
Ausgabe-Raster |
Das Ausgabe-Raster. Die Zellenwerte stellen die Exponentialfunktion zur Basis e der Eingabewerte dar. |
Raster |
Umgebungen
Auto-Commit, Zellengröße, Projektionsmethode für Zellengröße, Aktueller Workspace, Ausdehnung, Geographische Transformationen, Maske, Ausgabe-CONFIG-Schlüsselwort, Ausgabe-Koordinatensystem, Scratch-Workspace, Fang-Raster, Kachelgröße
Lizenzierungsinformationen
- Basic: Erfordert Spatial Analyst oder Image Analyst
- Standard: Erfordert Spatial Analyst oder Image Analyst
- Advanced: Erfordert Spatial Analyst oder Image Analyst